[发明专利]测试装置及其测试电压产生方法有效
申请号: | 201210580148.8 | 申请日: | 2012-12-27 |
公开(公告)号: | CN103901289A | 公开(公告)日: | 2014-07-02 |
发明(设计)人: | 陈瑞堂;林泳辰 | 申请(专利权)人: | 华邦电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种测试装置及其测试电压产生方法。依据脉冲信号、起始信号以及切换信号产生相互独立的多个子控制信号,以节省测试成本,提高产品良率。 | ||
搜索关键词: | 测试 装置 及其 电压 产生 方法 | ||
【主权项】:
一种测试装置,适于测试多个待测元件,包括:一测试控制信号产生单元,产生一脉冲信号、一起始信号以及一切换信号,其中该切换信号指示对一个或多个待测元件输出测试电压;一开关控制单元,耦接该测试控制信号产生单元,依据该脉冲信号以及该起始信号取样该切换信号,以产生多个子控制信号,其中该起始信号指示该开关控制单元开始依据该脉冲信号取样该切换信号;以及一电源模块,耦接该开关控制单元,依据所述子控制信号产生该测试电压。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华邦电子股份有限公司,未经华邦电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210580148.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。