[发明专利]一种光网络性能监测装置及监测方法无效

专利信息
申请号: 201210580364.2 申请日: 2012-12-27
公开(公告)号: CN103001695A 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 伍剑;李兰兰;陈亮 申请(专利权)人: 北京邮电大学
主分类号: H04B10/07 分类号: H04B10/07
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹
地址: 100876 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种光网络性能监测装置,包括:耦合器(1)、滤波器(2)、第一光强度探测元件(3)、第二光强度探测元件(4)、第一频谱分析仪(5)、第二频谱分析仪(6)、除法运算单元(7)。通过本发明所述的光网络性能监测装置及监测方法,在高速动态的可重构光分插复用器中,利用RF谱技术实现了偏振模色散PMD不灵敏的色度色散CD监测技术,并可以同时独立地监测色度色散CD和偏振模色散PMD,其方法实现简单,装置结构简单,探测带宽低,不需要修改发射机,并且明显提高了监测灵敏度,增大了监测范围。
搜索关键词: 一种 网络 性能 监测 装置 方法
【主权项】:
一种光网络性能监测装置,其特征在于,包括:耦合器(1)、滤波器(2)、第一光强度探测元件(3)、第二光强度探测元件(4)、第一频谱分析仪(5)、第二频谱分析仪(6)、除法运算单元(7),其中:耦合器(1),用于将待测信号分为两路,把待测信号输入至所述耦合器(1)的输入端口,所述耦合器(1)的第一输出端口连接所述滤波器(2)的输入端口,耦合器(1)的第二输出端口连接所述第一光强度探测元件(3)的输入端口;滤波器(2),用于滤除待测信号的边带分量,所述滤波器(2)的输出端口连接所述第二光强度探测元件(4)的输入端口;第一光强度探测元件(3)和第二光强度探测元件(4),用于检测待测信号的光强度,所述第一光强度探测元件(3)的输出端口连接所述第一频谱分析仪(5)输入端口,所述第二光强度探测元件(4)的输出端口连接所述第二频谱分析仪(6)的输入端口;第一频谱分析仪(5)和第二频谱分析仪(6),用于检测待测信号的RF功率,所述第一频谱分析仪(5)输出端口以及所述第二频谱分析仪(6)的输出端口共同接入除法运算单元(7)进行除法处理,由除法运算单元(7)输出检测结果。
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