[发明专利]肖特基二极管及其制造方法有效
申请号: | 201210581204.X | 申请日: | 2012-12-27 |
公开(公告)号: | CN103050548A | 公开(公告)日: | 2013-04-17 |
发明(设计)人: | 王剑敏 | 申请(专利权)人: | 北京燕东微电子有限公司 |
主分类号: | H01L29/872 | 分类号: | H01L29/872;H01L29/06;H01L29/47;H01L21/329;H01L21/28 |
代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 张雪梅 |
地址: | 100015 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种肖特基二极管及其制造方法。该肖特基二极管,包括阴极金属层,阴极金属层上的N型硅芯片,该N型硅芯片上具有开口的绝缘层,位于所述开口中及所述绝缘层上的阳极金属层。该肖特基二极管进一步包括该N型硅芯片中位于所述阳极金属层下方的金属硅化物层,以及该N型硅芯片中位于所述金属硅化物层周围的高浓度P型掺杂内环和位于所述高浓度P型内环外侧的高浓度P型掺杂外环;所述阳极金属层由钛铝金属构成。根据本发明制作而得的肖特基二极管,不仅其性能参数得到了改善,并且在不增加工艺步骤的情况下其生产制作的成品率获得显著提高。 | ||
搜索关键词: | 肖特基 二极管 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种肖特基二极管,包括阴极金属层;阴极金属层上的N型硅芯片;该N型硅芯片上具有开口的绝缘层;位于所述开口中及所述绝缘层上的阳极金属层;其特征在于,该肖特基二极管进一步包括,该N型硅芯片中位于所述阳极金属层下方的金属硅化物层,以及该N型硅芯片中位于所述金属硅化物层周围的高浓度P型掺杂内环和位于所述高浓度P型内环外侧的高浓度P型掺杂外环。
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