[发明专利]一种红外热像仪像元点的标定方法

摘要

本发明公布了一种红外热像仪像元点的标定方法，包括黑体辐射定标、挡板温度测量。通过黑体辐射定标，可以测得红外热成像的电压V与温度T的映射关系。通过多次挡板的实测值和计算值计算公式的推导，确定影响红外热像仪像元点测温精度n值，从而提高红外热像仪的测温精度。本发明有以下优点：1．采用挡板装置温度测量的方法，有效的提高了红外热成像测温公式中n的精度，从而提高了红外热成像测温的精度。2．通过红外探测器每个像元的精度的修正，可以有效的提高红外热成像测温的非均匀性。3．测量实验中，不用考虑挡板的发射率对实验结果的影响。4．测量实验中，不用考虑温度对实验结果的影响。

主权项

1.一种红外热像仪像元点的标定方法，包括下述步骤：（1）辐射定标：环境温度设为273K，黑体温度设为273K，检测红外探测器的电压V_T其中i为探测器水平像素数，j探测器垂直像素数；步进提高黑体温度分别测得各个温度下红外探测器的电压，根据测得的电压建立红外探测器电压V_T（i，j）与黑体温度T映射关系；（2）近距离设置一块发射率为ε为0.5左右可控温度的挡板，分别设置4个不同的温度T₀₁- T₀₄，用红外探测器测出一组V₀₁（i，j）- V₀₄（i，j）的数据，通过查辐射定标的表，得到热像仪指示的辐射温度T’₀₁（i，j）- T’₀₄（i，j）共4个温度，根据近距离测温公式，代入已知数据得到T01={1ϵ[T′01(i,j)n(i,j)-(1-ϵ)TUn(i,j)]}1n(i,j)]]>、T02={1ϵ[T′02(i,j)n(i,j)-(1-ϵ)TUn(i,j)]}1n(i,j)]]>、T03={1ϵ[T′03(i,j)n(i,j)-(1-ϵ)TUn(i,j)]}1n(i,j)]]>、T04={1ϵ[T′04(i,j)n(i,j)-(1-ϵ)TUn(i,j)]}1n(i,j)]]>；（3）根据T₀₁和T₀₂公式得到[T01T02]n(i,j)=T′01(i,j)n(i,j)-(1-ϵ)TUn(i,j)T′02(i,j)n(i,j)-(1-ϵ)TUn(i,j)]]>，根据T₀₃和T₀₄公式得到[T03T04]n(i,j)=T′03(i,j)n(i,j)-(1-ϵ)TUn(i,j)T′04(i,j)n(i,j)-(1-ϵ)TUn(i,j)]]>；（4）根据步骤（3）中公式得到1-(T01T02)n(i,j)1-(T03T04)n(i,j)=T′01n(i,j)(T01T02)n(i,j)T′02n(i,j)T′03n(i,j)-(T03T04)n(i,j)T′04n(i,j)]]>，将已知数据代入公式，计算出n(i,j)；（5）通过步骤（4）算法采用逐步逼近的方法，可以算得红外一个红外探测器每个像元点较为精确的n（i,j）值，对每个像元点进行标定。