[发明专利]磁共振系统、射频线圈测试装置及通道的匹配方法和装置有效

专利信息
申请号: 201210588056.4 申请日: 2012-12-30
公开(公告)号: CN103901370A 公开(公告)日: 2014-07-02
发明(设计)人: 阳昭衡 申请(专利权)人: 上海联影医疗科技有限公司
主分类号: G01R33/20 分类号: G01R33/20
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆苏华
地址: 201815 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种磁共振系统、射频线圈测试装置及通道的匹配方法和装置,射频线圈测试通道至少包括一个,各射频线圈测试通道的接口通过连接线与各射频线圈通道的接头连接,所述射频线圈测试通道的匹配方法包括:在所述各射频线圈通道的接头处接入不同阻值的取样电阻,得到所述各射频线圈测试通道的取样值;对所述各射频线圈测试通道进行测量,得到所述各射频线圈测试通道的测试数据;将所述各射频线圈测试通道的测试数据与所述各射频线圈通道的取样值进行匹配,得到匹配结果;根据所述匹配结果重新定义所述各射频线圈测试通道。本技术方案提供的射频线圈测试通道的匹配方法和装置,能够提高匹配效率,且匹配时不会出错,有利于射频线圈的维护。
搜索关键词: 磁共振 系统 射频 线圈 测试 装置 通道 匹配 方法
【主权项】:
一种射频线圈测试通道的匹配方法,所述射频线圈测试通道至少包括一个,各射频线圈测试通道的接口通过连接线与各射频线圈通道的接头连接,其特征在于,包括:在所述各射频线圈通道的接头处接入不同阻值的取样电阻,得到所述各射频线圈测试通道的取样值;对所述各射频线圈测试通道进行测量,得到所述各射频线圈测试通道的测试数据;将所述各射频线圈测试通道的测试数据与所述各射频线圈测试通道的取样值进行匹配,得到匹配结果;根据所述匹配结果,重新定义所述各射频线圈测试通道。
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