[发明专利]一种高功率半导体激光光束准直调整方法及装置有效
| 申请号： | 201210591411.3 | 申请日： | 2012-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN103078248A | 公开（公告）日： | 2013-05-01 |
| 发明（设计）人： | 蔡万绍;刘兴胜 | 申请（专利权）人： | 西安炬光科技有限公司 |
| 主分类号： | H01S5/06 | 分类号： | H01S5/06;G02B27/30 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 陈广民 |
| 地址： | 710119 陕西省西安市高*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种高功率半导体激光光束准直调整方法及装置，包括以下步骤：点亮半导体激光器，各个发光点发出的光束依次通过快轴、慢轴准直镜之后，入射到体光栅（VBG），将入射至体光栅（VBG）后的激光导入光谱仪进行光谱测试，分别调节快轴、慢轴准直镜，直至光谱仪所测光谱出现明显的窄化，则半导体激光器所发射的激光经过快慢、慢轴后为准直光束，固定快轴、慢轴准直镜位置。该发明能够实现在紧凑的空间内调整多路光束高精度的准直性，同时光谱窄化信号辨别简单，容易判断光路准直与否。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 功率 半导体 激光 光束 调整 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种高功率半导体激光光束准直调整方法，包括以下步骤：1）点亮半导体激光器，各个发光点发出的光束依次通过快轴、慢轴准直镜之后，入射到体光栅（VBG）；2）将入射至体光栅（VBG）后的激光导入光谱仪进行光谱测试；3）分别调节快轴、慢轴准直镜，直至光谱仪所测光谱出现明显的窄化，则半导体激光器所发射的激光经过快慢、慢轴后为准直光束；4）固定快轴、慢轴准直镜位置。
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