[发明专利]散射法测量强γ射线能谱的装置及方法无效
| 申请号： | 201210591839.8 | 申请日： | 2012-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN103091699A | 公开（公告）日： | 2013-05-08 |
| 发明（设计）人： | 余小任;全林;苗亮亮;潘孝兵;屠荆;宋朝晖;江新标;谭新建;苏春磊;宋晓靓;马燕 | 申请（专利权）人： | 西北核技术研究所 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 王少文 |
| 地址： | 71002*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种散射法测量强γ射线能谱的装置及方法，其装置包括带有屏蔽功能的照射器、设置在照射器内的高比活度同位素放射源、用于对照射器准直孔出射的γ射线进行限束的前准直器、用于接收前准直器准直形成的准平行γ射线束流的散射靶、用于测量50°角散射得到的平均能量为662keV散射射线的探测器，所述探测器设置在具有准直孔的屏蔽体的内腔中。本发明解决了校准实验室内钴60源产生的强γ射线能谱测量难题。 | ||
| 搜索关键词： | 散射 测量 射线 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种散射法测量强γ射线能谱的装置，其特征在于：包括带有屏蔽功能的照射器（11）、设置在照射器内的高比活度同位素放射源（12）、用于对照射器准直孔出射的γ射线（13）进行限束的前准直器（14）、用于接收前准直器（14）准直形成的准平行γ射线束流（16）的散射靶（15）、用于测量50°角散射得到的平均能量为662keV散射射线（17）的探测器（18），所述探测器（18）设置在具有准直孔的屏蔽体（19）的内腔中。
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