[发明专利]氧化物薄膜晶体管结构及制作氧化物薄膜晶体管的方法无效

专利信息
申请号: 201210593030.9 申请日: 2012-12-31
公开(公告)号: CN103915507A 公开(公告)日: 2014-07-09
发明(设计)人: 张民杰 申请(专利权)人: 瀚宇彩晶股份有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L29/417;H01L29/423;H01L29/10;H01L21/336;H01L21/28
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 徐金国
地址: 中国台湾新北*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明揭露一种氧化物薄膜晶体管及制作氧化物薄膜晶体管的方法。氧化物薄膜晶体管结构具有一基板,一漏极设置于基板上。一第一绝缘层设置于基板与漏极上,此第一绝缘层上设置有一第一开口以暴露出部分的漏极表面。一栅极和一栅绝缘层依序设置于第一绝缘层上,且设置于第一开口的两侧。一金属氧化物通道层设置于栅绝缘层上以及第一开口中。一源极设置于金属氧化物通道层上,其中金属氧化物通道层中对应第一开口的位置作为通道区。
搜索关键词: 氧化物 薄膜晶体管 结构 制作 方法
【主权项】:
一种氧化物薄膜晶体管结构,其特征在于,其包括:一基板;一漏极,设置于该基板上;一第一绝缘层,设置于该漏极与该基板上,其中该第一绝缘层具有一第一开口以暴露出该漏极的部分上表面;一栅极,设置于该第一绝缘层上,且位于该第一开口的两侧;一栅绝缘层,设置于该栅极上,且位于该第一开口的两侧;一金属氧化物通道层,设置于该栅绝缘层上以及该第一开口中;以及一源极,设置于该金属氧化物通道层上,其中该金属氧化物通道层中对应该第一开口的位置作为通道区。
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