[实用新型]可调节高精度X射线测厚仪有效
申请号: | 201220002653.X | 申请日: | 2012-01-05 |
公开(公告)号: | CN202471024U | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 侯跃新;郑辉;梅雪松;李岩;李钢;肖丹;周冬亮 | 申请(专利权)人: | 黑龙江省科学院技术物理研究所 |
主分类号: | G01B15/02 | 分类号: | G01B15/02 |
代理公司: | 哈尔滨东方专利事务所 23118 | 代理人: | 陈晓光 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 可调节高精度X射线测厚仪。X射线管在工作时,灯丝被通电加热到一定温度才会产生大量的热电子,又加上轰击靶面,电子束的绝大部分能量都转化为热能,X射线的转换率只有不到1%,所以在工作时X射线管必须冷却,以免阴极被加热至熔化,受到损坏。一种可调节高精度X射线测厚仪,其组成包括:连接架(1),所述的连接架一端连接具有高性能X射线管(2)的X射线发射装置(3),所述的连接架另一端连接具有X射线接收电离室(14)的X射线接收装置(5)。本实用新型通过X射线测量带材厚度。 | ||
搜索关键词: | 调节 高精度 射线 测厚仪 | ||
【主权项】:
一种可调节高精度X射线测厚仪,其组成包括:连接架,其特征是:所述的连接架一端连接具有高性能X射线管的X射线发射装置,所述的连接架另一端连接具有高压放大电路板的X射线接收装置。
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