[实用新型]测试三氯氧磷微量金属杂质的低温富集装置有效

专利信息
申请号: 201220015296.0 申请日: 2012-01-13
公开(公告)号: CN202420949U 公开(公告)日: 2012-09-05
发明(设计)人: 付呈琳;童淑丽;李辉;王磊;廖红英;孟蓉 申请(专利权)人: 北京化学试剂研究所
主分类号: G01N1/42 分类号: G01N1/42
代理公司: 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 代理人: 郑立明;赵镇勇
地址: 102607 北京市大兴区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开一种测试三氯氧磷微量金属杂质的低温富集装置,属于测量分析装置领域。该装置包括石英三氯氧磷收集管、保温筒、石英三氯氧磷收集管上部的磨口石英密封盖,石英三氯氧磷收集管内部的样品固定槽、样品池及样品固定器。该装置使三氯氧磷在低温中负压进行挥发,进而起到了样品中微量金属杂质的富集作用,该装置的富集方法,防止三氯氧磷在高温下与空气中水分分解生成磷酸和氯化氢,减小测定微量金属杂质时对仪器的损害。采用高纯石英材料,可以避免三氯氧磷装置在温度骤变时不发生碎裂。
搜索关键词: 测试 三氯氧磷 微量 金属 杂质 低温 富集 装置
【主权项】:
一种测试三氯氧磷微量金属杂质的低温富集装置,其特征在于,该装置包括:石英三氯氧磷收集管、保温筒、样品池和样品固定器;其中,所述石英三氯氧磷收集管设置在保温筒内;所述样品池设置在石英三氯氧磷收集内,所述样品池通过套设在其外面的样品固定器固定在所述石英三氯氧磷收集内。
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