[实用新型]无掩膜局域蚀刻装置、无掩膜局域蚀刻系统有效
申请号: | 201220032251.4 | 申请日: | 2012-01-31 |
公开(公告)号: | CN202633359U | 公开(公告)日: | 2012-12-26 |
发明(设计)人: | 张陆成 | 申请(专利权)人: | 张陆成 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 北京瑞恒信达知识产权代理事务所(普通合伙) 11382 | 代理人: | 苗青盛;王凤华 |
地址: | 414109 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本实用新型提供无掩膜局域蚀刻装置和无掩膜局域蚀刻系统,其包括:供液管,其向被蚀刻物的表面提供化学试剂;以及排液管,其将上述化学试剂与上述被蚀刻物反应后的物质从上述表面去除;其中,上述排液管和上述供液管中的一个为内管,另一个为外管,上述外管的蚀刻端口的形状与上述被蚀刻物的被蚀刻处的形貌和/或形状相对应。 | ||
搜索关键词: | 无掩膜 局域 蚀刻 装置 系统 | ||
【主权项】:
一种无掩膜局域蚀刻装置,其特征在于,包括:供液管,其向被蚀刻物的表面提供化学试剂;以及排液管,其将上述化学试剂与上述被蚀刻物反应后的物质从上述表面去除;其中,上述排液管和上述供液管中的一个为内管,另一个为外管,上述外管的蚀刻端口的形状与上述被蚀刻物的被蚀刻处的形貌和/或形状相对应。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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