[实用新型]一种集成电路引脚开短路的测试装置有效
| 申请号： | 201220112864.9 | 申请日： | 2012-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN202494750U | 公开（公告）日： | 2012-10-17 |
| 发明（设计）人： | 张波;魏建中 | 申请（专利权）人： | 杭州士兰微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 郑玮 |
| 地址： | 310012*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种集成电路引脚开短路的测试装置，包括：包括引脚测试模块、测试机总线、控制单元以及上位机；所述引脚测试模块与控制单元均连接在所述测试机总线上，所述上位机与控制单元相连；所述引脚测试模块包括N个引脚测试通道，N为大于等于1的自然数；所述控制单元通过所述测试机总线来读写引脚测试模块，所述控制单元将从所述引脚测试模块中获取的数据传输到所述上位机供其分析。利用该装置可以实现并行测试多个引脚开短路，大大降低了测试时间，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 引脚 短路 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种集成电路引脚开短路的测试装置，其特征在于：包括引脚测试模块、测试机总线、控制单元以及上位机；所述引脚测试模块与控制单元均连接在所述测试机总线上，所述上位机与控制单元相连；所述引脚测试模块包括N个引脚测试通道，N为大于等于1的自然数；所述控制单元通过所述测试机总线来读写引脚测试模块，所述控制单元将从所述引脚测试模块中获取的数据传输到所述上位机供其分析。
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