[实用新型]一种利用多检测针检测IC芯片单个触点的检测头有效
| 申请号： | 201220114098.X | 申请日： | 2012-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN202512146U | 公开（公告）日： | 2012-10-31 |
| 发明（设计）人： | 何有福;黄裕发 | 申请（专利权）人： | 精工伟达科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 广东广和律师事务所 44298 | 代理人： | 刘敏 |
| 地址： | 518111 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种利用多检测针检测IC芯片单个触点的检测头，包括探针支撑板以及装配于探针支撑板上的探针，用于同时检测IC芯片模块的同一触点的探针数量大于1。与现有技术相比，本实用新型中探测头在原有探针旁增设一个或者多个探针，可通过多个探针同时检测IC芯片模块的单个触点。这样，如果一根探针出现接触不良或磨损损坏，另一根探针可以起到辅助检测的作用，尽量减少因探针接触不良或测试磨损造成芯片检测错误的判断几率。由于提高了检测的准确度，这样保证了IC卡生产废品率的正常统计，提高了IC卡的生产效率和生产稳定性，最大程度地降低了生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 检测 ic 芯片 单个 触点 | ||
【主权项】：
一种利用多检测针检测IC芯片单个触点的检测头，包括探针支撑板以及装配于探针支撑板上的探针，其特征在于，用于同时检测IC芯片模块的同一触点的探针数量大于1。
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