[实用新型]大平片光谱测试仪有效
| 申请号： | 201220116057.4 | 申请日： | 2012-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN202512054U | 公开（公告）日： | 2012-10-31 |
| 发明（设计）人： | 冯迈东 | 申请（专利权）人： | 上海欣茂仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31 |
| 代理公司： | 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 | 代理人： | 吴泽群 |
| 地址： | 201103 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种大平片光谱测试仪，包括外壳(1)、底板(2)、光源灯室(3)、单色器(4)、出射光狭缝组件(5)、入射光狭缝组件(6)、样品室(7)、检测装置(8)、测试平台(9)、按键(10)、显示器(11)、仪器面板(12)和通讯接口(13)，其特征在于：所述出射光狭缝组件(5)和入射光狭缝组件(6)各有四组狭缝，光谱带宽依次分别为3nm、5nm、6.6nm、10nm。本实用新型通过对传统大平片光谱测试仪中光路传输方向的改变，缩小测试光斑，实现了大尺寸待测样品的小通光孔测试，使待测样品可以直接放在工作台上测试，保证了测试精度和测试准确性，操作简便，又可以不破坏测试样品，节约了成本。 | ||
| 搜索关键词： | 大平片 光谱 测试仪 | ||
【主权项】：
一种大平片光谱测试仪，包括外壳(1)、底板(2)、光源灯室(3)、单色器(4)、出射光狭缝组件(5)、入射光狭缝组件(6)、样品室(7)、检测装置(8)、测试平台(9)、按键(10)、显示器(11)、仪器面板(12)和通讯接口(13)，所述光源灯室(3)装在底板(2)内，底板(2)上光源灯室(3)下方装有单色器(4)，出射光出狭缝组件(5)和入射光狭缝组件(6)分别安装在单色器(4)底座上互成90°垂直的相邻二侧面上，样品室(7)装在底板(2)的右侧，检测装置(8)和测试平台(9)都设置在样品室(7)内，外壳(1)罩在底板(2)上，外壳(1)的正面上还设有仪器面板(12)，仪器面板(12)上设有显示器(11)和按键(10)，外壳(1)后侧下部设有通讯接口(13)，其特征在于：所述出射光狭缝组件(5)和入射光狭缝组件(6)各有四组狭缝，光谱带宽依次分别为3nm、5nm、6.6nm、10nm。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海欣茂仪器有限公司，未经上海欣茂仪器有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201220116057.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
