[实用新型]一种激光划刻机用的划刻精度检测系统有效

专利信息
申请号: 201220136479.8 申请日: 2012-04-01
公开(公告)号: CN202547599U 公开(公告)日: 2012-11-21
发明(设计)人: 樊成源;杨然翔;邢丽芬;安丽娜;李兆廷 申请(专利权)人: 东旭集团有限公司;成都泰轶斯太阳能科技有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 石家庄众志华清知识产权事务所(特殊普通合伙) 13123 代理人: 王苑祥
地址: 050021 *** 国省代码: 河北;13
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摘要: 一种激光划刻机用的划刻精度检测系统,为了防止由于激光划刻P1工序的定位精度给后续激光划刻工序带来影响的技术难题,设置在激光划刻机出口端的传送装置上,关键是:所述的检测系统中包括在传送装置基架上定位的位置传感器、采集玻璃基板边缘与划刻线图像信息的摄像头、以及配套的控制处理单元,摄像头将到位后的玻璃基板中的边缘图像以及划刻线图像信息经计算机收集处理后将状态测试信息发送至控制处理单元中,控制处理单元处理后发出执行形信号送至伺服机构。本实用新型的优点是测量P1划线偏移度,做到出现问题及时发现,及时处理,减少报废率;测量数据准确;存储所有测量数据,供后续的分析,有预防的作用。
搜索关键词: 一种 激光 划刻机用 精度 检测 系统
【主权项】:
一种激光划刻机用的划刻精度检测系统,设置在激光划刻机(1)出口端的传送装置(12)上,其特征在于:所述的检测系统中包括在传送装置基架(10)上定位的位置传感器、采集玻璃基板边缘与划刻线图像信息的摄像头(2)、以及配套的控制处理单元,摄像头(2)将到位后的玻璃基板中的边缘图像以及划刻线图像信息经计算机(7)收集处理后将状态测试信息发送至控制处理单元中,控制处理单元处理后发出执行信号送至伺服机构。
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