[实用新型]单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块有效
| 申请号： | 201220147018.0 | 申请日： | 2012-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN202710521U | 公开（公告）日： | 2013-01-30 |
| 发明（设计）人： | 张利;陈昌华 | 申请（专利权）人： | 南京迪威尔高端制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N29/30 | 分类号： | G01N29/30 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 柏尚春 |
| 地址： | 211500 江苏省南*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： |
本实用新型公开了一种单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块，所述对比试块为圆柱体，所述对比试块的一侧底面上设置有平底孔，所述平底孔垂直于底面，所述平底孔与另一侧底面的距离为L，当L小于等于152mm时，所述对比试块的直径为50.8mm±0.76mm；当L大于152mm且小于等于305mm时，所述对比试块的直径为63.5mm±0.76mm；当L大于305mm时，所述对比试块的直径为 |
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| 搜索关键词： | 探头 探测 平面 锻件 平底 比试 | ||
【主权项】：
1.一种单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块，所述对比试块为圆柱体，所述对比试块的一侧底面上设置有平底孔，所述平底孔垂直于底面，所述平底孔与另一侧底面的距离为L，当L小于等于152mm时，所述对比试块的直径为50.8mm±0.76mm；当L大于152mm且小于等于305mm时，所述对比试块的直径为63.5 mm±0.76mm；其特征在于，当L大于305mm时，所述对比试块的直径为![]()
mm±0.76mm，其中f为所述单晶探头的工作频率，所述工作频率的单位为兆赫。
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