[实用新型]一种光谱测量装置有效
| 申请号： | 201220163603.X | 申请日： | 2012-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN202522321U | 公开（公告）日： | 2012-11-07 |
| 发明（设计）人： | 潘建根 | 申请（专利权）人： | 杭州远方光电信息股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G02B1/10;G02B5/20 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310053 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种光谱测量装置，包括入射狭缝、色散元件和成像元件等光学元件，在光学元件表面镀有光谱选择性薄膜，光谱选择性薄膜的选择波段与光谱测量装置的测量波段相对应，镀有光谱选择性薄膜的光学元件仅能出射薄膜选择波段内的光线，而大幅衰减光路中其他波长的光线，从而大幅降低光学系统的杂散光水平。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光谱 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种光谱测量装置，包括入射狭缝(1)、色散元件(2)和一个或多个成像元件(3)，光线从入射狭缝(1)进入光谱测量装置，经色散元件(2)分光后，成像元件(3)将色散光会聚成像，其特征在于，在成像元件(3)的表面镀有光谱选择性薄膜(4)，所述的光谱选择性薄膜(4)的选择波段与光谱测量装置的测量波段相对应。
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