[实用新型]光学探针法测量两相流局部界面参数装置有效

专利信息
申请号: 201220171388.8 申请日: 2012-04-20
公开(公告)号: CN202614499U 公开(公告)日: 2012-12-19
发明(设计)人: 孙立成;幸奠川;苑立波;杨军;阎昌琪;孙中宁;曹夏昕;王建军;田道贵;孙波 申请(专利权)人: 哈尔滨工程大学
主分类号: G01M10/00 分类号: G01M10/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 实用新型的目的在于提供光学探针法测量两相流局部界面参数装置,包括激光源、光电转换及放大装置、光学探针、探针定位及驱动机构,激光源、探针定位及驱动机构分别布置在光电转换及放大装置的两侧,光学探针安装在探针定位及驱动机构上,激光源、光电转换及放大装置、光学探针、探针定位及驱动机构组成光路,光学探针置于被测流体里。本实用新型通过系统和设备的合理设计使实验装置可以实时准确的采集两相流系统中局部界面参数,光学探针采用平端面探头,制作工艺简单,造价低廉;采用耐高温胶密封则可将探针用于沸腾通道内局部界面参数的测量,实现装置多用。
搜索关键词: 光学 探针 测量 两相 局部 界面 参数 装置
【主权项】:
光学探针法测量两相流局部界面参数装置,其特征是:包括激光源、光电转换及放大装置、光学探针、探针定位及驱动机构,激光源、探针定位及驱动机构分别布置在光电转换及放大装置的两侧,光学探针安装在探针定位及驱动机构上,激光源、光电转换及放大装置、光学探针、探针定位及驱动机构组成光路,光学探针置于被测流体里。
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