[实用新型]RFIC交错式分类测试的结构有效
| 申请号： | 201220223653.2 | 申请日： | 2012-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN202693749U | 公开（公告）日： | 2013-01-23 |
| 发明（设计）人： | 陈良波;贺云朋 | 申请（专利权）人： | 全智科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 长春市吉利专利事务所 22206 | 代理人： | 张绍严;王大珠 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本实用新型为有关于一种RFIC(RadioFrequencyIntegratedCircuit，射频集成电路)交错式分类测试的结构，其为用来检测并分类至少一RFIC的芯片模块的分类测试装置，分类测试装置包括：至少一测试模块以及复数分类模块，测试模块测试各待测芯片模块，此分类结构的分类模块包括第一分类模块及第二分类模块，当其中一分类模块进行芯片模块分类的分类时间，此RFIC的测试模块进行测试另一分类模块内的待测芯片模块的测试，进而利用有限的测试资源而能提高测试分类量，达到提高产出且节省成本的实用进步性。 | ||
| 搜索关键词： | rfic 交错 分类 测试 结构 | ||
【主权项】：
一种RFIC交错式分类测试的结构，其为一用来检测并分类至少一芯片模块的分类测试装置，其特征在于该分类测试装置包括：至少一测试模块以及复数分类模块，测试模块测试各芯片模块；分类结构的复数分类模块包括分别同时对各芯片模块进行分类的一第一分类模块及一第二分类模块，该第一分类模块及该第二分类模块信息连接该测试模块，且该第一分类模块及该第二分类模块分别分类各该芯片模块。
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