[实用新型]一种磷硅玻璃和多晶硅厚度的在线同步测试装置有效
申请号: | 201220255769.4 | 申请日: | 2012-05-31 |
公开(公告)号: | CN202609923U | 公开(公告)日: | 2012-12-19 |
发明(设计)人: | 刘海韵;黄庆安;周再发 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | B81C99/00 | 分类号: | B81C99/00 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 柏尚春 |
地址: | 210096*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种磷硅玻璃和多晶硅厚度的在线同步测试装置,包括绝缘衬底和三个测试单元,每个测试单元包括磷硅玻璃层和四探针多晶硅电阻测试桥,磷硅玻璃层固定于绝缘衬底顶面;磷硅玻璃层被刻蚀成相互平行的凹槽,在凹槽间形成台阶;多晶硅电阻条爬越磷硅玻璃层上的台阶;第一测试单元中,多晶硅电阻条与笛卡尔坐标系的X轴方向平行;第二测试单元和第三测试单元中,四探针多晶硅电阻测试桥的数量均为两个,多晶硅电阻条与笛卡尔坐标系的X轴之间分别形成β1夹角和β2夹角。该在线同步测试装置利用多晶硅爬越由磷硅玻璃制造的多个台阶,通过对三组五个多晶硅电阻的测试,进而实现磷硅玻璃和多晶硅厚度的测试。 | ||
搜索关键词: | 一种 玻璃 多晶 厚度 在线 同步 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种磷硅玻璃和多晶硅厚度的在线同步测试装置,其特征在于,该测试装置包括绝缘衬底(6)、以及固定于绝缘衬底(6)顶面的第一测试单元(1)、第二测试单元(2)和第三测试单元(3)三个测试单元,其中,每个测试单元包括磷硅玻璃层(4)和四探针多晶硅电阻测试桥(5),四探针多晶硅电阻测试桥(5)包括一根多晶硅电阻条(501)和连接在多晶硅电阻条(501)上的四个测试电极(502);每个测试电极(502)中固定一金属块(503),磷硅玻璃层(4)固定于绝缘衬底顶面;磷硅玻璃层(4)被刻蚀成相互平行的凹槽(401),在凹槽(401)间形成台阶(402);多晶硅电阻条(501)覆盖在磷硅玻璃层(4)上,且多晶硅电阻条(501)爬越磷硅玻璃层(4)上的台阶(402);所述的第一测试单元(1)中,四探针多晶硅电阻测试桥(5)的数量为一个,多晶硅电阻条(501)与笛卡尔坐标系的X轴方向平行,且四探针多晶硅电阻测试桥(5)中的测试电极(502)位于磷硅玻璃层(4)上的台阶(402)的两侧;所述的第二测试单元(2)中,四探针多晶硅电阻测试桥(5)的数量为两个,两个四探针多晶硅电阻测试桥共用两个测试电极,其中,一个四探针多晶硅电阻测试桥中的多晶硅电阻条爬越磷硅玻璃层(4)上的台阶(402),另一个四探针多晶硅电阻测试桥中的多晶硅电阻条为平面;多晶硅电阻条(501)呈倾斜布置,且与笛卡尔坐标系的X轴之间形成β1夹角,β1大于0度小于90度;所述的第三测试单元(3)中,四探针多晶硅电阻测试桥(5)的数量为两个,两个四探针多晶硅电阻测试桥共用两个测试电极,其中,一个四探针多晶硅电阻测试桥中的多晶硅电阻条爬越磷硅玻璃层(4)上的台阶(402),另一个四探针多晶硅电阻测试桥中的多晶硅电阻条为平面;多晶硅电阻条(501)呈倾斜布置,且与笛卡尔坐标系的X轴之间形成β2夹角,β2大于0度小于90度,且β2与β1不相等。
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