[实用新型]X射线显微成像系统有效

专利信息
申请号: 201220286837.3 申请日: 2012-06-18
公开(公告)号: CN202720202U 公开(公告)日: 2013-02-06
发明(设计)人: 须颖;董友 申请(专利权)人: 东营市三英精密工程研究中心
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 贾玉姣
地址: 257091 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 实用新型公开了一种X射线显微成像系统,包括:可沿纵向移动的射线源;样品台;探测器,所述探测器和所述射线源在纵向上位于所述样品台的两侧,所述探测器包括横向相邻的大视场探测器和高分辨率探测器,所述探测器被构造成可分别沿横向和纵向移动以使所述射线源发射出的X射线穿透所述待测样品后投射至所述大视场探测器和高分辨率探测器中的其中一个上;控制器,所述控制器用于控制所述射线源和所述探测器的移动;和计算机,所述计算机分别与所述控制器和所述探测器相连以分别向所述控制器发出控制指令及对待测样品进行图像数据采集。本成像系统,可根据实际需要实现分辨率与视场在成像极限范围内的连续可调,解决两个成像难以兼顾的难题。
搜索关键词: 射线 显微 成像 系统
【主权项】:
一种X射线显微成像系统,其特征在于,包括:用于发射X射线的射线源,所述射线源可沿纵向移动;用于承载待测样品的样品台;探测器,所述探测器和所述射线源在纵向上位于所述样品台的两侧,所述探测器包括横向相邻的大视场探测器和高分辨率探测器,所述探测器被构造成可分别沿横向和纵向移动以使所述射线源发射出的X射线穿透所述待测样品后投射至所述大视场探测器和高分辨率探测器中的其中一个上;控制器,所述控制器用于控制所述射线源和所述探测器的移动;和计算机,所述计算机分别与所述控制器和所述探测器相连以分别向所述控制器发出控制指令及对待测样品进行图像数据采集。
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