[实用新型]高电压测试装置有效

专利信息
申请号: 201220320447.3 申请日: 2012-07-04
公开(公告)号: CN202693777U 公开(公告)日: 2013-01-23
发明(设计)人: 邱钰莲;吕俊昌;林宜政;于浩;夏中卫 申请(专利权)人: 泰金宝光电(苏州)有限公司;泰金宝电通股份有限公司
主分类号: G01R31/44 分类号: G01R31/44
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 施浩
地址: 215200 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种高电压测试装置,包括底座、测试基座、固定单元以及测试单元,其中测试基座、固定单元以及测试单元皆设置于底座上。测试基座具有容置口以及测试探针,其中测试探针位于容置口内,而固定单元及测试单元位于测试基座的相对侧,且测试单元包括第一固定壁、第一驱动组件以及弧形探针。第一固定壁设置于底座上,而第一驱动组件可动地设置于第一固定壁上以相对靠近或远离底座,且弧形探针连接第一驱动组件,并受第一驱动组件驱动而伸出或缩回。
搜索关键词: 电压 测试 装置
【主权项】:
一种高电压测试装置,其特征在于,包括:底座;测试基座,设置于所述底座上,具有容置口以及测试探针,其中所述测试探针位于所述容置口内;固定单元,设置于所述底座上;测试单元,设置于所述底座上,并与所述固定单元位于所述测试基座的相对侧,所述测试单元包括:第一固定壁,设置于所述底座上;第一驱动组件,可动地设置于所述第一固定壁上以相对靠近或远离所述底座;以及弧形探针,连接所述第一驱动组件,并受所述第一驱动组件驱动而伸出或缩回。
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