[实用新型]一种复合全桥差压测量单元有效
| 申请号： | 201220330880.5 | 申请日： | 2012-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN202814623U | 公开（公告）日： | 2013-03-20 |
| 发明（设计）人： | 金忠;谢贵久;吴迪;龙悦;颜志红;何迎辉 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十八研究所 |
| 主分类号： | G01L13/06 | 分类号： | G01L13/06 |
| 代理公司： | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 | 代理人： | 马强 |
| 地址： | 410111 湖南*** | 国省代码： | 湖南;43 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种复合全桥差压测量单元，包括两个压力敏感芯片，所述压力敏感芯片由惠斯登电桥组成，位于正压端的惠斯登电桥的正输出半桥和位于负压端的惠斯登电桥的正输出半桥组成复合全桥，两个惠斯登电桥的负输出半桥均悬空，本实用新型采用两个压力敏感芯片复合成新的全桥来测量差压，解决了传统差压传感器不能测量负差压以及电路复杂的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 复合 全桥差压 测量 单元 | ||
【主权项】：
一种复合全桥差压测量单元，包括两个压力敏感芯片，其特征在于，所述压力敏感芯片由惠斯登电桥组成，位于正压端的惠斯登电桥的正输出半桥和位于负压端的惠斯登电桥的正输出半桥组成复合全桥，两个惠斯登电桥的负输出半桥均悬空。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十八研究所，未经中国电子科技集团公司第四十八研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201220330880.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
