[实用新型]Mirau型物镜及使用该物镜的干涉显微镜和测量系统有效

专利信息
申请号: 201220363110.0 申请日: 2012-07-25
公开(公告)号: CN202794687U 公开(公告)日: 2013-03-13
发明(设计)人: 陶纯堪 申请(专利权)人: 陶纯堪
主分类号: G02B21/00 分类号: G02B21/00;G01B9/04;G01B11/24;G01B11/30
代理公司: 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 代理人: 朱戈胜
地址: 210094 江苏省南京市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种Mirau型物镜,包括显微镜头、第一干涉板和第二干涉板;第一干涉板和第二干涉板平行放置在显微镜头的下方,且与显微镜头的光轴垂直;第一干涉板在显微镜头和第二干涉板之间;第一干涉板上表面中心设有反射圆斑;第二干涉板的上表面镀有分光膜,该分光膜的反射率是10%~30%。一种使用所述Mirau型物镜的Mirau干涉显微镜,包括光源、聚光镜、视场光阑、单色滤光片、第一分光镜、第二分光镜、工作台和所述Mirau型物镜。一种使用所述的Mirau干涉显微镜的测量系统,包括Mirau干涉显微镜、计算机和摄像机。本实用新型的光路不失调能长期稳定工作,并且实现数字化自动控制的Mirau(米洛)干涉显微镜,而且实现了10×、20×以至50×等一系列放大倍率的Mirau型物镜加工和装配工艺技术。
搜索关键词: mirau 物镜 使用 干涉显微镜 测量 系统
【主权项】:
一种Mirau型物镜,其特征是包括显微镜头、第一干涉板和第二干涉板;第一干涉板和第二干涉板平行放置在显微镜头的下方,且与显微镜头的光轴垂直;第一干涉板在显微镜头和第二干涉板之间;第一干涉板上表面中心设有反射圆斑;第二干涉板的上表面镀有分光膜,该分光膜的反射率是10%~30%。
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