[实用新型]散斑相关和散斑干涉相结合的三维变形测量系统有效

专利信息
申请号: 201220372299.X 申请日: 2012-07-30
公开(公告)号: CN202748011U 公开(公告)日: 2013-02-20
发明(设计)人: 孙平;孙明勇 申请(专利权)人: 山东师范大学
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16;G01B11/02
代理公司: 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 代理人: 张勇
地址: 250014 山*** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型涉及一种散斑相关和散斑干涉相结合的三维变形测量系统,它包括激光器,激光器发出的激光扩束后经过半透半反镜,分别照到被测物体和参考物面,两者同时经过半透半反镜由成像透镜成像在CCD摄像机上,半透半反镜相对于入射光线成45°角倾斜放置,有参考光路时,在CCD摄像机的靶面上物面散斑和参考面散斑相互干涉,形成干涉散斑图像,测量离面位移分量,去掉参考物光路,采集物面上的散斑图像,利用变形前后的两幅散斑图,运用散斑相关运算计算出面内位移的二个分量。它利用典型的对离面位移敏感的数字散斑光路,实现了散斑相关测量物体的面内位移和散斑干涉离面位移,实现了三维位移测量,具有光路简单、操作和数据处理简单快捷的优点。
搜索关键词: 相关 干涉 相结合 三维 变形 测量 系统
【主权项】:
一种散斑相关和散斑干涉相结合的三维变形测量系统,其特征是,它包括激光器,激光器发出的激光送入扩束镜;扩束镜后方设有与入射光线成45°角倾斜放置的半透半反镜,半透半反镜的反射光照射到被测物,透射光则照射到参考物面,参考物面与PZT相移器连接构成参考光路;被测物的散斑图像经过半透半反镜由成像透镜成像在CCD摄像机上,利用被测物变形前后的两幅散斑图,计算出面内位移的二个分量;在参考光路工作时被测物表面的散斑图像与参考物面的散斑图像形成干涉散斑图像,并由成像透镜成像在CCD摄像机上,测量物体离面位移分量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于山东师范大学,未经山东师范大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201220372299.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top