[实用新型]基板厚度测量设备有效

专利信息
申请号: 201220375840.2 申请日: 2012-07-31
公开(公告)号: CN202734797U 公开(公告)日: 2013-02-13
发明(设计)人: 高健;郭雪松;李向明 申请(专利权)人: AEM科技(苏州)股份有限公司
主分类号: G01B21/08 分类号: G01B21/08
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 孙仿卫;赵艳
地址: 215122 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型涉及一种基板厚度测量设备,包括:机架;料盒:包括放置待测物料的第一料盒、放置合格物料的第二料盒以及放置不合格物料的第三料盒;取料机构:包括设置在机架上的移动平台、设置在移动平台上的真空吸取夹具,真空吸取夹具具有多个真空吸盘;检测台:包括设置在机架上的真空平台、设置在真空平台上部的测试探头,真空平台能够吸附住放置在其上部的物料,测试探头设置有5个;数据采集、储存及控制系统:与取料机构、检测台相连接。本实用新型通过自动化测量设备替代人工检测,采用5个点同时进行检测,较为准确的测量基本的精度;采用真空吸附,能有效防止基板变形而导致测量数据的不准确;系统自动采集储存数据,便于进行观察和统计。
搜索关键词: 厚度 测量 设备
【主权项】:
一种基板厚度测量设备,其特征在于:包括:机架;料盒:所述的料盒设置在所述的机架上,包括放置待测物料的第一料盒、放置合格物料的第二料盒以及放置不合格物料的第三料盒;取料机构:所述的取料机构包括设置在所述的机架上的移动平台、设置在所述的移动平台上的真空吸取夹具,所述的真空吸取夹具具有多个真空吸盘;检测台:所述的检测台包括设置在所述的机架上的真空平台、设置在所述的真空平台上部的测试探头,所述的真空平台能够吸附住放置在其上部的物料,所述的测试探头设置有5个;数据采集、储存及控制系统:所述的数据采集、储存及控制系统与所述的取料机构、检测台相连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于AEM科技(苏州)股份有限公司,未经AEM科技(苏州)股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201220375840.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top