[实用新型]小行程漏电测试结构有效
| 申请号： | 201220378410.6 | 申请日： | 2012-08-01 |
| 公开（公告）号： | CN202916371U | 公开（公告）日： | 2013-05-01 |
| 发明（设计）人： | 石刚 | 申请（专利权）人： | 广州番禺旭东阪田电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 511400 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了小行程漏电测试结构，其中，包括测试棒、外壳、铭牌、簧片、基板、固定接点板，所述测试棒固定在所述外壳上，所述簧片焊接在所述基板上进行固定；所述固定接点板与所述簧片对应设置；所述基板上设置有焊盘，所述焊盘与所述簧片尖部对应设置。本实用新型提供的小行程漏电测试结构，结构简单，使用寿命长，电气间隙大，可承受大电流，不容易烧坏，同时避免误触发，测试机构使用寿命可达1万次以上；大大增加电气间隙，远远大于微动开关的电气间隙，且可避免误触发；因电气间隙大，本机构绝缘耐压性能可靠，且在大电流分断时不容易烧坏。 | ||
| 搜索关键词： | 行程 漏电 测试 结构 | ||
【主权项】：
小行程漏电测试结构，其特征在于，包括测试棒、外壳、铭牌、簧片、基板、固定接点板，所述测试棒固定在所述外壳上，所述簧片焊接在所述基板上进行固定；所述固定接点板与所述簧片对应设置。
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