[实用新型]集成电路的抗辐照检测系统有效
| 申请号： | 201220411847.5 | 申请日： | 2012-08-17 |
| 公开（公告）号： | CN202929165U | 公开（公告）日： | 2013-05-08 |
| 发明（设计）人： | 徐睿;桂江华;张沛;邹家轩;蔡洁明 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 无锡市大为专利商标事务所 32104 | 代理人： | 殷红梅 |
| 地址： | 214035*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种集成电路的抗辐照检测系统，该检测系统包括上位机和下位机两大部分，它们之间由串口传输，PC机在外部进行远程监控。下位机即为辐照测试板，解析指令，完成被辐照芯片的测试，向上位机发送采集到的单粒子翻转数据。上位机对下位机发送开始测试、停止测试和工作模式选择等控制指令。同时，上位机通过内部总线与电源板卡通信，通过板卡实时采集被测芯片的电流数据、对被测芯片的电源关断及复位等操作。本实用新型的优点是：本实用新型采用上位机、下位机和远程监控计算机构成单粒子检测系统，软硬件合理分配，便捷地完成单粒子翻转（SEU）和单粒子闩锁（SEL）的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 辐照 检测 系统 | ||
【主权项】：
集成电路的抗辐照检测系统，其特征在于：包括相互连接的上位机和辐照测试板，辐照测试板放置在真空室中，上位机在真空室外部进行监控；上位机对辐照测试板发送包括开始测试、停止测试和工作模式选择在内的控制指令，辐照测试板解析指令，完成被测芯片的测试，向上位机发送采集到的单粒子翻转数据；同时，上位机通过内部总线与电源板卡通信，通过电源板卡实时采集被测芯片的电流数据、对被测芯片进行电源关断及复位操作；所述辐照测试板包括FPGA、通信接口电路、电源转换模块，FPGA的I/O端口与所述通信接口电路以及被测芯片相连，电源转换模块的输入端与外部的电源板卡连接，被测芯片也同所述电源板卡连接，所述电源转换模块的输出端连接FPGA和通信接口电路，所述通信接口电路通过外部的通信板卡连接到上位机。
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