[实用新型]用于MOSFET芯片的封装体有效

专利信息
申请号: 201220421197.2 申请日: 2012-08-23
公开(公告)号: CN202796930U 公开(公告)日: 2013-03-13
发明(设计)人: 胡乃仁;杨小平;李国发;钟利强 申请(专利权)人: 苏州固锝电子股份有限公司
主分类号: H01L23/495 分类号: H01L23/495;H01L23/49;H01L29/78
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 马明渡
地址: 215153 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开一种用于MOSFET芯片的封装体,包括MOSFET芯片、环氧树脂层,导电基盘、第一导电焊盘和第二导电焊盘,所述导电基盘由散热区和基盘引脚区组成,所述散热区位于MOSFET芯片正下方且与MOSFET芯片下表面之间通过导电焊料层电连接;所述第一导电焊盘和第二导电焊盘位于MOSFET芯片另一侧,第一导电焊盘和第二导电焊盘均包括焊接区和引脚区;若干根第一金属线跨接于所述MOSFET芯片的源极与第一导电焊盘的焊接区之间,第二金属线跨接于所述MOSFET芯片的栅极与第二导电焊盘的焊接区之间。本实用新型封装体有利于进一步缩小器件的体积,同时减少封装体中部件的数目;且提升器件MOSFET芯片散热效率。
搜索关键词: 用于 mosfet 芯片 封装
【主权项】:
一种用于MOSFET芯片的封装体,包括MOSFET芯片(1)、环氧树脂层(2),所述MOSFET芯片上表面(1)设有源极和栅极,下表面设有漏极,其特征在于:还包括导电基盘(3)、第一导电焊盘(4)和第二导电焊盘(5),所述导电基盘(3)由散热区(31)和基盘引脚区(32)组成,所述散热区(31)位于MOSFET芯片(1)正下方且与MOSFET芯片(1)下表面之间通过导电焊料层(6)电连接;所述第一导电焊盘(7)和第二导电焊盘(8)位于MOSFET芯片(1)另一侧,第一导电焊盘(4)和第二导电焊盘(5)均包括焊接区(7)和引脚区(8);若干根第一金属线(9)跨接于所述MOSFET芯片(1)的源极与第一导电焊盘(4)的焊接区(7)之间,第二金属线(10)跨接于所述MOSFET芯片(1)的栅极与第二导电焊盘(5)的焊接区(7)之间。
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