[实用新型]电子产品老化试验工装有效
| 申请号： | 201220437079.0 | 申请日： | 2012-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN202815105U | 公开（公告）日： | 2013-03-20 |
| 发明（设计）人： | 白云飞;郭承伟;张玉双 | 申请（专利权）人： | 北京德天泉机电设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京驰纳智财知识产权代理事务所(普通合伙) 11367 | 代理人： | 谢亮;王志刚 |
| 地址： | 100091*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种电子产品老化试验工装，包括基座（1）、连接筋（2）、检测接口（3）、检测电路，其特征在于：所述基座（1）上装有与检测接口（3）一一对应的指示灯（4），所述基座上（1）固定安装有定位凸台（5），所述定位凸台（5）上设置有定位槽（6），该电子产品老化试验工装不但结构简单、成本低廉、检测接口数量多而且定位槽（6）的设置有利于被检测设备或装置的整齐排列，便于拆装识别。 | ||
| 搜索关键词： | 电子产品 老化试验 工装 | ||
【主权项】：
一种电子产品老化试验工装，包括基座（1）、连接筋（2）、检测接口（3）、检测电路，其特征在于：所述基座（1）上装有与检测接口（3）一一对应的指示灯（4），所述基座上（1）固定安装有定位凸台（5），所述定位凸台（5）上设置有定位槽（6），定位槽（6）有利于被检测设备或装置的整齐排列，便于拆装识别。
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