[实用新型]多通道光插回损测试仪有效
| 申请号： | 201220440139.4 | 申请日： | 2012-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN202836925U | 公开（公告）日： | 2013-03-27 |
| 发明（设计）人： | 尹晓民 | 申请（专利权）人： | 上海光之虹光电通讯设备有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201822 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 公开了一种多通道光插回损测试仪，包括光源组、多个光分路器、偏振控制器、内置探测器多路光功率计、主控器和与主控器线路连接的外置探测器参考光功率计；具有1个或2个正向输出测试端口和多个正向输入测试端口，正向输出、输入测试端口分别通过测试用跳线与被测试器件连接；主控器分别与光源组、光开关组、多路光开关、偏振控制器、内置探测器多路光功率计线路连接。本实用新型消除了因连接损耗不确定引起的误差；多通道插回损、偏振相关损耗实时测量，测量效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 通道 光插回损 测试仪 | ||
【主权项】：
多通道光插回损测试仪，其特征是：包括光源组、多个光分路器、偏振控制器、内置探测器多路光功率计、主控器和与主控器线路连接的外置探测器参考光功率计；光源组的光源依次经光开关组、光分路器、偏振控制器、正向输出测试端口，被测试器件、正向输入测试端口、光分路器及内置探测器多路光功率计构成正向测试通道；光源依次经光开关组、多路光开关、光分路器、正向输入测试端口、被测试器件、正向输出测试端口、偏振控制器、光分路器及内置探测器多路光功率计构成反向测试通道；正向输出、输入测试端口分别通过测试用跳线与被测试器件连接；主控器分别与光源组、光开关组、多路光开关、偏振控制器、内置探测器多路光功率计线路连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海光之虹光电通讯设备有限公司，未经上海光之虹光电通讯设备有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201220440139.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于产生过电压的测试装置
- 下一篇：灯装置及照明装置
