[实用新型]一种半导体引线框架与下模间距镶件的配合结构有效

专利信息
申请号: 201220440693.2 申请日: 2012-08-31
公开(公告)号: CN202816928U 公开(公告)日: 2013-03-20
发明(设计)人: 刘思勇 申请(专利权)人: 杰群电子科技(东莞)有限公司
主分类号: H01L23/495 分类号: H01L23/495;H01L23/31;B29C45/14
代理公司: 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 代理人: 雷利平
地址: 523750 广东省东莞市黄江镇裕元工*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及半导体封装技术领域,特别涉及一种半导体引线框架与下模间距镶件的配合结构,包括引线框架和下模间距镶件,引线框架包括头部连杆和管脚连杆,下模间距镶件的一侧设有凹槽,头部连杆和凹槽配合设置。头部连杆的长度和凹槽的深度均为0.2-0.35mm。头部连杆的长度和凹槽的深度均为0.28mm。管脚连杆侧边为曲折形状。管脚连杆宽度为0.78mm。本实用新型阻止多余胶体溢出头部,并增长了引线框架头部连杆,且将下模间距镶件与头部连杆配合的部位由L形变成凹槽,加强了头部连杆与下模间距镶件的配合紧密度,有效地减少了树脂从引线框架头部溢出,减少了脱模后的除胶工序,节约了人力资源和原材料,提高了生产效率。
搜索关键词: 一种 半导体 引线 框架 间距 配合 结构
【主权项】:
一种半导体引线框架与下模间距镶件的配合结构,包括引线框架和下模间距镶件,所述引线框架包括头部连杆和管脚连杆,其特征在于:所述下模间距镶件的一侧设有凹槽,所述头部连杆和所述凹槽配合设置。
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