[实用新型]基于LabView的激光加工过程温度场测量装置有效
| 申请号： | 201220447936.5 | 申请日： | 2012-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN202770534U | 公开（公告）日： | 2013-03-06 |
| 发明（设计）人： | 郭华锋;雍兆;满家祥;张佐营;杨根喜;李清伟;胡志强 | 申请（专利权）人： | 徐州工程学院 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 徐州市三联专利事务所 32220 | 代理人： | 周爱芳 |
| 地址： | 221000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种基于LabView的激光加工过程温度场测量装置。主要由温度测量装置和软件控制部分组成，温度测量装置包括红外测温传感器、单片机、单片机供电电源模块、传感器供电电源模块、22.1184MH晶振及复位电路；所述的红外测温传感器通过线路与单片机连接，单片机通过RS232芯片与上位机相连，传感器供电电源模块与传感器连接，单片机供电电源模块与单片机相连，红外测温传感器通过夹具固定在激光加工机床主轴上。优点：设备简单、成本较低、测温范围广，通过改变测温传感器的位置可进行定点和动态两种温度测量，满足不同条件需要。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 labview 激光 加工 过程 温度场 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种基于LabView的激光加工过程温度场测量装置，包括温度测量装置，其特征在于：所述的温度测量装置包括红外测温传感器、单片机、单片机供电电源模块、传感器供电电源模块、22.1184MH晶振及复位电路；所述的红外测温传感器通过线路与单片机连接，单片机通过RS232芯片与上位机相连，传感器供电电源模块与传感器连接，单片机供电电源模块与单片机相连，红外测温传感器安装在激光加工装置上。
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