[实用新型]低硬度物体厚度测量工具有效
| 申请号： | 201220455491.5 | 申请日： | 2012-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN202734799U | 公开（公告）日： | 2013-02-13 |
| 发明（设计）人： | 任磊 | 申请（专利权）人： | 深圳汇洁集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/08 | 分类号： | G01B21/08 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 张文祎 |
| 地址： | 518040 广东省深圳市福田区深南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及低硬度物体厚度测量工具，它包括测量平台、基座和厚度测量仪；所述测量平台上表面固设有基座，测量平台上表面还设有基准探头，所述基座上表面垂设有滑轨，所述厚度测量仪滑配合设置于滑轨上；本实用新型在对低硬度物体测量时，根据待测物体的硬度设定夹持力范围，使得低硬度物体在被夹持时避免出现变形后被测量的情况，减少了由于夹持时的变形对测量结果的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 硬度 物体 厚度 测量 工具 | ||
【主权项】：
低硬度物体厚度测量工具，其特征在于：它包括测量平台（1）、基座（2）和厚度测量仪（3）；所述测量平台（1）上表面固设有基座（2），测量平台（1）上表面还设有基准探头（11），所述基座（2）上表面垂设有滑轨（21），所述厚度测量仪（3）滑配合设置于滑轨（21）上。
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