[实用新型]半导体激光器光束特性测试装置有效

专利信息
申请号: 201220516599.0 申请日: 2012-10-10
公开(公告)号: CN202853880U 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 张普;刘兴胜;吴迪;宗恒军 申请(专利权)人: 西安炬光科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 陈广民
地址: 710119 陕西省西安市高*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 实用新型提出了一种简便实用的半导体激光器光束特性测试装置。该半导体激光器光束特性测试装置,包括半圆形光束接收装置和旋转驱动机构;半导体激光器的输出端位于该半圆形光束接收装置的圆心,半圆形光束接收装置面向半导体激光器安装有多个光接收器,各个光接收器分别接有微型探测器;以半导体激光器的输出光束的光轴为旋转轴,半圆形光束接收装置或半导体激光器由所述旋转驱动机构驱动旋转。应用本实用新型能够得到整个激光器光束特性实时曲线,并直观地描述激光器的光束特性,从而实现对半导体激光器的空间光束特性参数的测量。
搜索关键词: 半导体激光器 光束 特性 测试 装置
【主权项】:
半导体激光器光束特性测试装置,包括半圆形光束接收装置和旋转驱动机构;半导体激光器的输出端位于该半圆形光束接收装置的圆心,半圆形光束接收装置面向半导体激光器安装有多个光接收器,各个光接收器分别接有微型探测器;以半导体激光器的输出光束的光轴为旋转轴,半圆形光束接收装置或半导体激光器由所述旋转驱动机构驱动旋转。
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