[实用新型]熔融金属成分检测装置有效

专利信息
申请号: 201220574666.4 申请日: 2012-11-02
公开(公告)号: CN202869976U 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: 王秋平;潘从元;于云偲;杜学维;安宁 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: G01N21/63 分类号: G01N21/63;G01N1/10
代理公司: 北京维澳专利代理有限公司 11252 代理人: 马佑平
地址: 230026 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型涉及一种熔融金属成分检测装置,包括取样杆系统、脉冲激光器、光路系统、光谱探测装置、时序控制单元、光谱分析单元;取样杆系统包括取样杆和驱动取样杆运动的驱动装置;时序控制单元的时序信号依次触发驱动装置、脉冲激光器及光谱探测装置,驱动装置驱动取样杆插入熔融金属液内部进行取样后,脉冲激光器发射脉冲激光经光路系统聚焦至取样杆表面,产生的等离子体信号光由光路系统采集并导出至光谱探测装置,光谱探测装置获得光谱信息并将其发送至光谱分析单元,即可分析得出熔融金属的实时成分信息。本实用新型利用取样杆取样,使光学系统元件远离高温炉体,避免了光学元件的性能受到影响,同时确保光谱分析的稳定性,从而提高了成分检测的可靠性。
搜索关键词: 熔融 金属 成分 检测 装置
【主权项】:
一种熔融金属成分检测装置,其特征在于包括:取样杆系统、脉冲激光器、光路系统、光谱探测装置、时序控制单元、光谱分析单元;取样杆系统包括取样杆和驱动取样杆运动的驱动装置;时序控制单元的时序信号依次触发驱动装置、脉冲激光器及光谱探测装置,驱动装置驱动取样杆插入熔融金属液内部进行取样后,脉冲激光器发射脉冲激光经光路系统聚焦至取样杆表面,产生的等离子体信号光由光路系统采集并导出至光谱探测装置,光谱探测装置获得光谱信息并将其发送至光谱分析单元。
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