[实用新型]一种用于远距离微变形监测的摄影测量系统有效

专利信息
申请号: 201220578504.8 申请日: 2012-11-05
公开(公告)号: CN202928571U 公开(公告)日: 2013-05-08
发明(设计)人: 郭巍;李玮煜;周晓刚;江雷子;李先强 申请(专利权)人: 上海米度测控科技有限公司
主分类号: G01C11/00 分类号: G01C11/00;G01B11/16
代理公司: 上海一平知识产权代理有限公司 31266 代理人: 祝莲君;雷芳
地址: 200433 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型提供了一种用于远距离微变形监测的摄影测量系统,被监测目标上设有多个测量参考物。该测量系统包括激光发射器、数字相机、计算机、以及通信设备。激光发射器位于离被监测目标50-100米处,并通过通信设备与计算机连接,用于在被监测目标上投射激光以生成一个测量参考点。数字相机用于对被监测目标进行拍摄,并通过通信设备与计算机连接,以将所拍摄到的照片传递到计算机以获得被监测目标的变形量。本实用新型的测量系统能够实现被监测目标微变形的高精度测量,并将摄影测量高精度测量范围由10米以内有效扩大到50-100米。
搜索关键词: 一种 用于 远距离 变形 监测 摄影 测量 系统
【主权项】:
一种用于远距离微变形监测的摄影测量系统,被监测目标上设有多个测量参考物,所述摄影测量系统包括数字相机、计算机、以及通信设备,其特征在于:所述摄影测量系统还包括激光发射器,用于在被监测目标上投射激光以生成一个模拟参考点,并且所述激光发射器通过所述通信设备与所述计算机连接;以及所述数字相机用于对被监测目标进行拍摄,并通过所述通信设备与所述计算机连接,以将所拍摄到的照片传递到所述计算机以获得被监测目标的变形量。
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