[实用新型]芯片封装结构有效

专利信息
申请号: 201220586656.2 申请日: 2012-11-08
公开(公告)号: CN202917475U 公开(公告)日: 2013-05-01
发明(设计)人: 林仲珉;沈海军 申请(专利权)人: 南通富士通微电子股份有限公司
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆苏华
地址: 226006 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种芯片封装结构,包括:半导体衬底;位于所述半导体衬底内的金属焊盘;位于所述半导体衬底上的绝缘层,所述绝缘层具有暴露所述金属焊盘的开口;位于所述金属焊盘上的球下金属电极;位于所述球下金属电极表面的焊球,所述焊球具有第一围裙结构,所述第一围裙结构覆盖所述球下金属电极底部周围的金属焊盘。本实用新型的芯片封装结构增大了焊球和金属焊盘之间的附着力,提升了芯片封装的可靠性。
搜索关键词: 芯片 封装 结构
【主权项】:
一种芯片封装结构,其特征在于,包括:半导体衬底;位于所述半导体衬底内的金属焊盘;位于所述半导体衬底上的绝缘层,所述绝缘层具有暴露所述金属焊盘的开口;位于所述金属焊盘上的球下金属电极;位于所述球下金属电极表面的焊球,所述焊球具有第一围裙结构,所述第一围裙结构覆盖所述球下金属电极底部周围的金属焊盘。
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