[实用新型]振荡器晶体电参数测试装置有效
| 申请号： | 201220597803.6 | 申请日： | 2012-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN202948083U | 公开（公告）日： | 2013-05-22 |
| 发明（设计）人： | 李永斌;杨铁生;段宗涛 | 申请（专利权）人： | 同方国芯电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 唐山永和专利商标事务所 13103 | 代理人： | 张云和 |
| 地址： | 064100 河北*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种振荡器晶体电参数测试装置，包括运动控制单元、振荡器定位框和定位探针，还包括测量探针；测量探针与π板相连接；π板与250B测试系统相连接；所述机械运动控制单元将振荡器移载到振荡器定位框内。本实用新型振荡器晶体电参数测试装置，能将不良晶片剔除，能够让晶体与IC能够更好的匹配，提高产品合格率，提高劳动效率，降低生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 振荡器 晶体 参数 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种振荡器晶体电参数测试装置，其特征在于：包括振荡器定位框、设置于振荡器定位框外侧将振荡器移载到振荡器定位框内的运动控制单元和将振荡器产品固定于测量基准位置的定位探针，还包括与SMD振荡器外测点进行接触的测量探针；测量探针与π板相连接；π板与250B测试系统相连接。
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