[实用新型]二氧化钛纳米管阵列精密制备和原位测试分析系统有效
申请号: | 201220604479.6 | 申请日: | 2012-11-14 |
公开(公告)号: | CN202974938U | 公开(公告)日: | 2013-06-05 |
发明(设计)人: | 杨贤金;崔振铎;梁砚琴;杜康;丛士杰;赵学玒;赵翔;王博 | 申请(专利权)人: | 天津精仪博硕科技发展有限公司 |
主分类号: | G01N27/416 | 分类号: | G01N27/416;B82Y35/00 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 杜文茹 |
地址: | 300072 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 一种二氧化钛纳米管阵列精密制备和原位测试分析系统:制备参数检测单元,位于制备参数检测单元顶部的降温照明装置,位于制备参数检测单元一侧用于向制备参数检测单元进行电极光电催化活性试验提供照明的高功率氙灯光源,与制备参数检测单元相连用于采集检测参数并根据检测参数对制备参数检测单元进行控制的制备参数测控单元,与制备参数检测单元相连用于采集电化学参数的电化学性能测试单元,以及分别与制备参数测控单元和电化学性能测试单元相连的上位机。本实用新型提供一种批量制备二氧化钛纳米管阵列的自动化制备装置,该装置能成批量制备二氧化钛纳米管阵列,结构精巧严谨,自动化操作,能保证自组装二氧化钛纳米管的稳定生长。 | ||
搜索关键词: | 氧化 纳米 阵列 精密 制备 原位 测试 分析 系统 | ||
【主权项】:
一种二氧化钛纳米管阵列精密制备和原位测试分析系统,其特征在于,包括:制备参数检测单元(1),位于制备参数检测单元(1)顶部的用于为制备参数检测单元(1)内部提供散热的降温照明装置(2),位于制备参数检测单元(1)一侧用于向制备参数检测单元(1)进行电极光电催化活性试验提供照明的高功率氙灯光源(3),与所述的制备参数检测单元(1)相连用于采集检测参数并根据检测参数对制备参数检测单元(1)进行控制的制备参数测控单元(4),与所述的制备参数检测单元(1)相连用于采集电化学参数的电化学性能测试单元(5),以及分别与制备参数测控单元(4)和电化学性能测试单元(5)相连的上位机(6)。
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