[实用新型]一种用于批量电子元器件测试的测试板有效
| 申请号： | 201220611742.4 | 申请日： | 2012-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN203012063U | 公开（公告）日： | 2013-06-19 |
| 发明（设计）人： | 毛岩;刘喆;贾文耀;王雷;申晶晶;陈文;柳建国;梁爽 | 申请（专利权）人： | 中国石油集团长城钻探工程有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01;G01R1/04 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 马永利;李浩 |
| 地址： | 100101 中*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及用于批量电子元器件测试的测试板，包括：安装在测试板表面上的多组测试部，每组测试部用于一种类型的电子元器件，每组测试部中的每个测试部具有：用于安置待测电子元器件的凹槽；凹槽两侧与待测元器件的两个电极分别相对的两个电接触件；和连接在测试板表面上的两个调节装置，一个调节装置与一个电接触件连接，用于使得该一个电接触件在常态下与相应测试部中的待测电子元器件电接触并且在放置或取出待测电子元器件时使得该一个电接触件离开该待测电子元器件。该测试板还包括接触部，从接触部向该多组测试部引出多对电连接线，其中一对电连接线与一个测试部的电接触件相对应，用于向该插槽中的待测电子元器件加电。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 批量 电子元器件 测试 | ||
【主权项】：
一种用于批量电子元器件测试的测试板（10），其特征在于包括：安装在该测试板表面上的多组测试部（1001,1002…），每组测试部用于一种类型的电子元器件，其中，每组测试部中的每个测试部均具有： 用于安置待测电子元器件的凹槽（105）； 凹槽两侧与待测电子元器件的两个电极（1101、1102）分别相对的两个电接触件（1151、1152）；和 连接在该测试板表面上的两个调节装置（120），一个调节装置与一个电接触件连接，用于使得该一个电接触件在常态下处于工作位置并且在放置或取出待测电子元器件时处于回退位置，其中工作位置使得该一个电接触件与相应测试部中的待测电子元器件电接触，回退位置使得该一个电接触件离开该待测电子元器件；接触部（125），从接触部向该多组测试部引出多对电连接线，其中一对电连接线与一个测试部的电接触件相对应，用于向该插槽中的待测电子元器件加电。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国石油集团长城钻探工程有限公司，未经中国石油集团长城钻探工程有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201220611742.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
