[实用新型]变压器绕组变形自动巡检装置

摘要

本实用新型公开了一种变压器绕组变形自动巡检装置，包括数据处理器、对被检测变压器绕组中各绕组线圈的幅频响应特性进行测试的幅频响应特性测试电路、数据存储单元一、对幅频响应特性测试电路所用正弦波激励源的频率进行调控的控制器一、用于输入变形测试过程中正弦波激励源的频率随测试时间变化曲线的参数输入单元、数据存储单元二、数据传输模块、定时电路、变形测试控制按键以及分别与数据处理器相接的时钟电路、数据传输接口和电源模块。本实用新型设计合理、接线方便、使用操作简便且智能化程度高、使用效果好，能按预先设定的巡检频率和巡检方案自动对所检测变压器的绕组变形情况进行定时检测，并能将测试结果同步上传至上位监控器。

主权项

一种变压器绕组变形自动巡检装置，其特征在于：包括数据处理器（8）、对被检测变压器绕组中各绕组线圈的幅频响应特性进行测试的幅频响应特性测试电路（1）、对幅频响应特性测试电路（1）中的幅频响应特性测试结果进行自动存储记录的数据存储单元一（2）、对幅频响应特性测试电路（1）所用正弦波激励源（15）的频率进行调控的控制器一（3）、用于输入变形测试过程中正弦波激励源的频率随测试时间变化曲线的参数输入单元（4）、对变形测试过程中正弦波激励源的频率随时间变化曲线进行存储的数据存储单元二（5）、将幅频响应特性测试电路（1）的幅频响应特性测试结果同步上传至上位监控器（6）的数据传输模块（7）、对被检测变压器的绕组变形测试时间进行人为设定的定时电路（12）、通过按键电路（13）与数据处理器（8）相接的变形测试控制按键（14）以及分别与数据处理器（8）相接的时钟电路（9）、数据传输接口（10）和电源模块（11），所述幅频响应特性测试电路（1）的输出端与数据处理器（8）相接，所述数据存储单元一（2）、参数输入单元（4）、数据存储单元二（5）、数据传输模块（7）、定时电路（12）和按键电路（13）均与数据处理器（8）相接，所述控制器一（3）与正弦波激励源（15）相接；所述数据处理器（8）为ARM微处理器。