[实用新型]芯片测试系统有效
| 申请号： | 201220659596.2 | 申请日： | 2012-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN203084153U | 公开（公告）日： | 2013-07-24 |
| 发明（设计）人： | 王明生;张忠华;唐兴华;胡娟 | 申请（专利权）人： | 记忆科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 刘健;黄韧敏 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型适用于电子技术领域，提供了一种芯片测试系统，包括：用于测试控制的处理装置，该处理装置连接于外部的计算机；用于配置接口引脚的配置芯片，所述配置芯片分别连接待测试的芯片及所述处理装置。优选的，所述的测试系统为flash测试系统。借此，本实用新型可以方便的对不同类型的flash芯片进行性能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种芯片测试系统，其特征在于，包括：用于测试控制的处理装置，该处理装置连接于外部的计算机；用于配置接口引脚的配置芯片，所述配置芯片分别连接待测试的芯片及所述处理装置。
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