[实用新型]一种痕量物质探测器有效
申请号: | 201220669247.9 | 申请日: | 2012-12-04 |
公开(公告)号: | CN202916189U | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 沈海滨 | 申请(专利权)人: | 中国计量学院 |
主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31;G01N21/01 |
代理公司: | 杭州丰禾专利事务所有限公司 33214 | 代理人: | 王晓峰 |
地址: | 310018 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种痕量物质探测器,包括有光源、光束准直整形器、近场光学行波腔以及中阶梯光栅光谱仪,所述的近场光学行波腔为等腰三角形棱镜,其底面为内全反射面,第一腰面和第二腰面为高反射率反射面,痕量物质的测试区位于内全反射面的光学近场区域;所述的光束准直整形器设置在光源的出射光束的光路上,光束准直整形器的出射光束由第一腰面入射近场光学行波腔,由第二腰面出射;所述的阶梯光栅光谱仪设置在近场光学行波腔的出射光束的光路上。该探测器整体结构简单,可分析测量对象拓展到薄膜、界面、纳米物质、流体,测量时所需被测物质量少,检测精度高、物质辨别能力强。 | ||
搜索关键词: | 一种 痕量 物质 探测器 | ||
【主权项】:
一种痕量物质探测器,包括有光源、光束准直整形器、近场光学行波腔以及中阶梯光栅光谱仪,其特征在于:所述的近场光学行波腔为等腰三角形棱镜,其底面为内全反射面,第一腰面和第二腰面为高反射率反射面,痕量物质的测试区位于内全反射面的光学近场区域;所述的光束准直整形器设置在光源的出射光束的光路上,光束准直整形器的出射光束由第一腰面入射近场光学行波腔,入射方向与光学行波腔的内全反射面平行,在第一腰面、第二腰面和内全反射面构成的近场光学行波腔内形成光学行波,由第二腰面出射;所述的阶梯光栅光谱仪设置在近场光学行波腔的出射光束的光路上。
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