[实用新型]用于真空等离子体工艺的机械式晶片卡压装置有效
申请号: | 201220672607.0 | 申请日: | 2012-12-10 |
公开(公告)号: | CN203055887U | 公开(公告)日: | 2013-07-10 |
发明(设计)人: | 赖守亮 | 申请(专利权)人: | 赖守亮 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
地址: | 江苏省南京*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开了一种用于真空等离子体工艺的机械式晶片卡压装置,包括晶片衬底和电极、陶瓷压环、压环连杆、连杆支架、永磁体组对、驱动电机、电机支架;晶片衬底放置于电极上,陶瓷压环设置在晶片衬底上方,通过压环连杆与连杆支架相连接;永磁体组对包括两个相对应设置相互磁力耦合的第一组永磁体和第二组永磁体;第一组永磁体与连杆支架固定连接,第二组永磁体固定在驱动电机上,驱动电机活动连接设置在电机支架上。能够克服现有的机械式晶片卡压装置不能兼容不同厚度和表面平整度的晶片衬底的技术缺陷,使用可靠;降低和消除在陶瓷压环在接触到晶片衬底表面时对晶片衬底产生的瞬间冲击力,减少晶片衬底的表面损伤或破裂的几率,提高生产效率。 | ||
搜索关键词: | 用于 真空 等离子体 工艺 机械式 晶片 装置 | ||
【主权项】:
一种用于真空等离子体工艺的机械式晶片卡压装置,包括晶片衬底(03)和电极(02),所述晶片衬底(03)放置于电极(02)上,其特征在于:还包括陶瓷压环(04)、压环连杆(05)、连杆支架(06)、永磁体组对(07)、驱动电机(10)、电机支架(11);所述陶瓷压环(04)设置在晶片衬底(03)上方,通过压环连杆(05)与连杆支架(06)相连接;所述永磁体组对(07)包括两个相对应设置相互磁力耦合的第一组永磁体和第二组永磁体;所述第一组永磁体与连杆支架(06)固定连接,所述第二组永磁体固定在驱动电机(10)上,所述驱动电机(10)活动连接设置在电机支架(11)上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于赖守亮,未经赖守亮许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201220672607.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种可调双阻吸能防冲液压支架
- 下一篇:一种掺杂态聚苯胺纳米粒子的制备方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造