[实用新型]一种长余辉荧光粉性能测试装置有效
| 申请号： | 201220738821.1 | 申请日： | 2012-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN202956344U | 公开（公告）日： | 2013-05-29 |
| 发明（设计）人： | 熊凯 | 申请（专利权）人： | 浙江大学城市学院 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213 | 代理人： | 吴秉中 |
| 地址： | 310015*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 一种长余辉荧光粉性能测试装置，属于光电测试装置技术领域。其特征在于包括黑箱、用于激发荧光粉的激发光源，黑箱内设置用于放荧光粉的托盘，托盘上方设置光电探头，在激发光源和荧光粉之间设置用于控制光照的快门，激发光源、光电探头、快门均与控制电路配合连接，控制电路与上位机配合连接。上述一种长余辉荧光粉性能测试装置，采用有良好密闭性的黑箱放置荧光粉，能很好地避免各种光辐射干扰，测量出极为微弱的荧光粉余辉信号，同时通过内部实时采集记录程序，能够避免任何断电引起的数据丢失现象，其测试结果准确，使用方便，工作稳定可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 余辉 荧光粉 性能 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种长余辉荧光粉性能测试装置，其特征在于包括黑箱（5）、用于激发荧光粉的激发光源（3），黑箱（5）内设置用于放荧光粉的托盘（6），托盘（6）上方设置光电探头（7），在激发光源（3）和荧光粉之间设置用于控制光照的快门（4），激发光源（3）、光电探头（7）、快门（4）均与控制电路（2）配合连接，控制电路（2）与上位机（1）配合连接。
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