[实用新型]使用了分布式X射线源的物品检查装置有效
| 申请号： | 201220745388.4 | 申请日： | 2012-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN203341743U | 公开（公告）日： | 2013-12-18 |
| 发明（设计）人： | 唐华平;李元景;赵自然;刘耀红;秦占峰;张金宇;唐虎 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司;清华大学 |
| 主分类号： | A61B6/02 | 分类号： | A61B6/02;G01N23/04 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 闫小龙;卢江 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及使用了分布式X射线源的物品检查装置，具有：机架；物品通道；物品传送装置；分布式X射线源，在每个工作周期内能够以不同位置依次产生X射线；探测器阵列，用于接收来自分布式X射线源的X射线并输出表征X射线强弱的信号；电子学系统，接收来自探测器的信号，将该信号转换为数字信号，并与对应的探测器位置编号形成数据包，输出将探测器阵列的多个探测器信号和位置编号形成的数据包序列；图像处理系统，接收来自电子学系统的输出，对探测器位置编号和对应的表征X射线强弱的信号进行处理，构建形成受检查物品的图像；射线源电源，用于对分布式X射线源供电；控制系统，用于对各分部件进行逻辑控制，使各分系统协调工作。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 分布式 射线 物品 检查 装置 | ||
【主权项】：
一种物品检查装置，其特征在于，具有：机架；物品通道，处于所述机架内，用于使受检查物品通过；物品传送装置，处于所述机架内并且位于所述物品通道的下方；分布式X射线源，位于所述物品通道的上方，在每个工作周期内能够以不同位置依次产生X射线；探测器阵列，由多个探测器组成，位于所述物品通道的下方且与所述分布式X射线源围绕物品通道对称布置，用于接收来自所述分布式X射线源的X射线并且输出表征X射线强弱的信号；电子学系统，接收来自所述探测器的信号，将所述信号转换为数字信号，并与对应的探测器的位置编号形成数据包，输出将来自所述探测器阵列的多个探测器的信号和位置编号形成的数据包序列；图像处理系统，接收来自所述电子学系统的输出，对探测器的位置编号和对应的表征X射线强弱的信号进行处理，构建形成所述受检查物品的图像；射线源电源，用于对所述分布式X射线源供电；以及控制系统，用于对各分部件进行逻辑控制，使各分系统协调工作。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于同方威视技术股份有限公司;清华大学，未经同方威视技术股份有限公司;清华大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201220745388.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
