[实用新型]大晶粒块状高温超导体及其组合磁浮力测量装置有效

专利信息
申请号: 201220747013.1 申请日: 2012-12-28
公开(公告)号: CN203037384U 公开(公告)日: 2013-07-03
发明(设计)人: 郑明辉;张廷江;焦玉磊 申请(专利权)人: 北京有色金属研究总院;苏州普菲电子科技有限公司
主分类号: G01L1/00 分类号: G01L1/00;G01L1/22
代理公司: 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 代理人: 刘茵
地址: 100088 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 大晶粒块状高温超导体及其组合磁浮力测量装置,包括机架、移动及转动机构、控制及数据采集单元,低温样品容器,磁体,力信号测试采集元件;磁体和力信号测试采集元件固定于垂直移动机构上;水平移动机构位于垂直移动机构的下方;转动机构固定于水平移动机构上,低温样品容器固定于转动机构上。通过驱动垂直移动机构确定磁场扫描测量元件与超导样品之间的距离;控制水平移动机转动机构,使样品相对与力信号测试采集元件做水平运动和转动;采集水平方向的坐标值及轴向力和径向力的测量数据;由此测量大晶粒块状高温超导体俘获磁场。
搜索关键词: 晶粒 块状 高温 超导体 及其 组合 浮力 测量 装置
【主权项】:
大晶粒块状高温超导体及其组合磁浮力测量装置,其特征在于,该装置包括机架(1),垂直移动机构(2),水平移动机构(3),控制及数据采集单元(4),低温样品容器(5),磁体(6),力信号测试采集元件(71、72)和转动机构(8); 该垂直移动机构(2)固定在机架(1)上,磁体(6)和力信号测试采集元件(71)固定于该垂直移动机构(2)上; 该水平移动机构(3)固定在机架(1)上,并位于垂直移动机构(2)的下方;转动机构(8)固定于该水平移动机构(3)上,低温样品容器(5)固定于该转动机构(8)上;水平移动机构(3)上固定力信号测试采集元件(72); 该垂直移动机构(2)、水平移动机构(3)、转动机构(8)和力信号测试采集元件(71、72)分别与控制及数据采集单元(4)连接。
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