[实用新型]一种表面等离子体纵向场扫描近场光学显微镜装置有效
申请号: | 201220754746.8 | 申请日: | 2012-12-28 |
公开(公告)号: | CN203164205U | 公开(公告)日: | 2013-08-28 |
发明(设计)人: | 袁小聪;杜路平;沈军峰;朱思伟;闵长俊;方晖 | 申请(专利权)人: | 南开大学 |
主分类号: | G01Q60/18 | 分类号: | G01Q60/18 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300071 天*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本实用新型提供一种表面等离子体纵向场扫描近场光学显微镜装置,其具有表面等离子体激发单元(1)入射光经高数值孔径物镜(6)聚焦后会在金属膜和空气界面激发SPPs,其相互干涉在焦点附近形成SPPs的驻波场;扫描控制单元(2)利用AFM控制器(4)可实现对AFM金属探针(5)的三维扫描和定位;检测单元(3)实现表面等离子体场的纵向场分量三维测量和分析。 | ||
搜索关键词: | 一种 表面 等离子体 纵向 扫描 近场 光学 显微镜 装置 | ||
【主权项】:
一种表面等离子体纵向场扫描近场光学显微镜装置,其特征在于,具有表面等离子体激发单元(1)、扫描控制单元(2)和检测单元(3);所述的表面等离子体激发单元(1)包括:激发光源、分束器(7)、高数值孔径物镜(6)、镀有45nm银膜的玻片、三维扫描平台;所述的镀有45nm银膜的玻片设置在所述的三维扫描平台上,其上通过自组装吸附有拉曼分子;所述的激发光源发出的光束穿过所述的分束器(7)、高数值孔程物镜(6)照射在所述的吸附有拉曼分子的玻片上;所述的扫描控制单元(2)包括:AFM金属探针(5)、AFM控制器(4)、计算机;所述的AFM控制器(4)控制连接所述的AFM金属探针(5);所述的计算机控制连接所述的AFM控制器(4);所述的检测单元(3)包括:光谱分析仪(11)、光电倍增管(10)、分束器(8)、CCD和计算机;所述的分束器(8)连接所述的光谱分析仪(11)、光电倍增管(10);所述的光谱分析仪(11连接所述的CCD;所述的CCD和光电倍增管(10)连接所述的计算机。
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