[发明专利]光子计数型的X射线计算机断层装置以及散射线校正方法有效
| 申请号： | 201280003585.1 | 申请日： | 2012-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN103200873A | 公开（公告）日： | 2013-07-10 |
| 发明（设计）人： | 森安健太 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 孙蕾 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种光子计数型的X射线CT装置，具有：X射线管，发生最大能量是比特性X射线的最大峰值能量大的能量的X射线光子；X射线检测物质，检测X射线光子；减弱系数映射生成单元，生成与包括特性X射线的最大峰值能量的第一能量区域相当的第一减弱系数映射；减弱系数映射变换单元，将第一减弱系数映射变换为作为与第一能量区域不同的区域的第二能量区域的第二减弱系数映射；仿真执行单元，根据第二减弱系数映射进行散射线仿真而生成散射X射线光子的散射光子分布；以及图像重建单元，根据与第二能量区域相当的、检测的X射线光子生成重建前的数据，通过散射光子分布对重建前的数据进行校正处理而生成校正数据，根据校正数据，重建与第二能量区域相当的、散射线校正了的图像。 | ||
| 搜索关键词： | 光子 计数 射线 计算机 断层 装置 以及 散射 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种光子计数型的X射线计算机断层装置，其特征在于，具有：X射线管，发生最大能量是比特性X射线的最大峰值能量大的能量的X射线光子；X射线检测物质，检测所述X射线光子；减弱系数映射生成单元，生成与包括所述特性X射线的最大峰值能量的第一能量区域相当的第一减弱系数映射；减弱系数映射变换单元，将所述第一减弱系数映射变换为作为与所述第一能量区域不同的区域的第二能量区域的第二减弱系数映射；仿真执行单元，根据所述第二减弱系数映射进行散射线仿真而生成散射X射线光子的散射光子分布；以及图像重建单元，根据与所述第二能量区域相当的、检测的所述X射线光子生成重建前的数据，通过所述散射光子分布对所述重建前的数据进行校正处理而生成校正数据，根据所述校正数据，重建与所述第二能量区域相当的、经散射线校正了的图像。
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